基于FPGA的IC自动测试系统设计

摘要

基于FPGA技术设计了一种IC自动测试系统,通过总线通信的优化实现了板卡的柔性化组合与拓展。系统能自动识别槽位上的模块型号,并按系统CONFIG要求分配资源。实践表明,该系统可满足数字类IC和模拟类IC的量产测试需求,适用于IC的芯片验证测试和出厂成品测试;运行平稳、安全可靠,为集成电路测试设备的国产化、数字化和网络化提供了切实可行的解决方案。