ICP-MS法测定超细银粉中十二种杂质元素的研究

摘要

用电感耦合等离子于质谱仪(简称ICP-MS)直接测定超细银粉中12种杂质元素,考察了基体效应及接口效应对仪器测定灵敏度的影响.选择适当的待测元素同位素克服了质谱干扰.定量加入内标元素有效校正了基体效应、接口效应及仪器波动等因素而带来的测量偏差.方法的加标回收率为90.0%～110.5%,变异系数CV为0.5%-4.7%.