某星载二次电源耳片损伤原因分析及改进措施

摘要

根据产品设计规范、产品生产过程记录材料以及试验相关资料,对某星载二次电源研制过程中,冲击试验时耳片损伤问题进行了原因分析。探究了冲击试验时耳片损伤的机理,提出了增加耳片数量的改进措施,并通过理论分析与试验对改进措施进行了验证。分析结果表明改进措施有效,明显提高了耳片设计裕度。试验结果表明,试验后试验件耳片无损伤,增加耳片数量解决了冲击试验时耳片损伤的问题。