粉末压片-X射线荧光光谱法测定化探样品中的La、Nb、U

摘要

采用粉末压片-X射线荧光光谱法测量化探样品中的La、Nb、U,确定了较恰当的测量条件,并进行了精确度和准确度实验,测量结果满足我国地质矿产行业标准的相关质量要求,此法绿色高效、结果良好.