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Cd1-xZnxTe晶片室温显微光致发光平面扫描谱

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主要介绍用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片表面亚微米层特性进行的研究.

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来源
《红外》 |2003年第12期|24-28|共5页
作者
刘劼;
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作者单位

中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

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正文语种 chi
中图分类半导体技术 ; 红外技术及仪器 ;
关键词
CdZnTe 光致发光扫描谱;

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