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正构烷烃随温度变化的太赫兹时域光谱研究

         

摘要

利用太赫兹时域光谱技术研究了温度变化对正构烷烃(C11~C14)状态的影响.通过扫描不同温度下的样品得到了太赫兹时域谱.经数据处理后得到的频域谱、折射率谱、吸收系数谱均能反映正构烷烃状态的变化.温度下降至低于其凝点时,正构烷烃状态由液态变为固态晶体,导致频域谱中的有效频率区间变窄,频域面积减小.温度的降低会导致烷烃分子结晶,折射率增大,吸收系数与频率成线性关系.实验结果表明,太赫兹时域光谱技术可以应用于检测以正构烷烃为代表的非极性烃类物质.

著录项

  • 来源
    《红外》 |2018年第1期|31-35,41|共6页
  • 作者

    张平; 高磊; 马立业;

  • 作者单位

    中国石油大学(北京)重质油国家重点实验室,北京102249;

    中国石油大学(北京)理学院,北京102249;

    中国石油大学(北京)理学院,北京102249;

    中国石油大学(北京)重质油国家重点实验室,北京102249;

    中国石油大学(北京)理学院,北京102249;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 电磁学;
  • 关键词

    正构烷烃; 太赫兹光谱; 温度变化;

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