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红外焦平面阵列CMOS读出电路参数的计算机辅助测试系统

         

摘要

读出电路是红外焦平面器件研究的关键技术之一,本文研制出一种用于CMOS读出电路参数测试的计算机辅助测试系统.该系统可靠、精度高,有完整的软硬件环境,以适应各种读出电路的测试.

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