一种新的红外焦平面阵列盲元检测算法

摘要

受材料、制造工艺等因素的影响，红外焦平面阵列探测器均存在一定数量的盲元。在分析探测单元响应特性的基础上，提出一种双参考辐射源+定义检测算法。实验结果表明，该算法具有盲元误检率低，查找快速等优点。