光调制直接重写磁光多层膜测试方法研究

摘要

为了测试光调制直接重写磁光多层膜的磁光性能,试制了磁光多层膜光调制直接重写特性测试系统.磁光信号检测采用改进差动式检测,检测方式仅与磁光克尔角大小有关,可以用来作样品的克尔角指示.同时,该检测方式由于不受激光功率和盘片反射率变化的影响,对光电探测器的温漂特性也有良好抑制作用,更适合静态实验的需求,可以较好地测试光调制直接重写磁光多层膜的磁光性能.