半导体制冷元器件性能参数测试与研究

摘要

本文根据半导体制冷元器件的特性优势,研发并设计了一种以半导体制冷元器件为基准的性能参数检测设备,利用该设备对规格Tec1-12706t半导线制冷元器件的制冷时间与散热量进行测试,通过测试数据分析和理论计算结果推导出了半导体元器件的冷热端温度及有关性能参数。并对测试数据做出了校正,校正结果进一步显示了半导体元器件的性能指标与年平均气温间的因果关系。该装置对半导体制冷元器件的性能参数检测结果数量级具备一定的准确度,由此可以为半导体性能指标检测的研究提供重要依据。