精密测距仪—μ-base在基线检测中的应用

摘要

新型-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪,它采用了ADM测距原理,在使用角隅棱镜(CCR1.5",RRR1.5")时,其在160m的范围内的测距精度优于10m。受制于-base的测距范围,文章分别采用了"差分法"和"叠加法"对基线进行了多次重复测量,经分析,该方法测量精度较高,满足基线检测的精度要求,为测距仪进行基线检测提供了新的方法和依据。