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显微镜结合计算机测定均方根粒度RMS

             

摘要

本文介绍一种由光学显微镜结合计算机进行胶片的微密度测量,并通过计算机的数据采集和数据处理获得胶片的RMS值。同时介绍一种保持胶片在测量过程中始终处于焦平测量平台装置以及测试样品的制备。

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