光绘光栅法测量断路器速度特性的方法和装置

摘要

真空断路器因其行程短,测量触头行程和研究速度特性较困难,现介绍一种用光绘光栅法测量开关分合闸速度特性的方法与装置,其结构简单、使用方便、精度高,适用于短行程开关或其他高压开关电器。