CCD采集系统线性斜率及非线性研究

摘要

为给物理实验数据提供切实可行的修正参数,利用测量的CCD像素强度值与像素平均值的最大偏离度表征法,全面系统地对ICF研究领域中的科学级光学CCD在ADC处于不同参数设置下的线性斜率和非线性规律进行了探索研究.实验结果表明:该台CCD在小尺度计数范围下(低于饱和计数15%)线性度优于1%,同时通过线性斜率的数据分析发现,CCD在ADC处于slow和fast两种类型下,线性斜率近乎相同,分别为0.27和0.01.这充分证明了CCD系统增益在ADC处于同一类型下它不随读出速率发生变化的特性,同时通过标定提供了该台CCD在用于大尺度计数时物理实验数据可参考的校正曲线.