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X光胶片响应曲线的实验标定

             

摘要

介绍了天津ⅢX光胶片在北京同步辐射源3W1B装置上进行绝对响应标定的一种实验方法.实验中采用快门控制曝光时间,标准探测器记录积分光强,从而得到胶片接收到的绝对光强,并用黑密度计扫描胶片得到光学黑密度.数据处理中通过对快门响应的标定和对光源分布不均匀性的处理来减小光强的不确定度.实验得到了胶片在1 keV和1.5 keV两个能点绝对光强与黑密度之间的绝对响应实验数据,并用Henke的理论公式拟合得到绝对响应曲线.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2008年第3期|419-422|共4页
  • 作者单位

    华中科技大学,光电子科学与工程学院,武汉光电国家实验室,武汉,430074;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

    华中科技大学,光电子科学与工程学院,武汉光电国家实验室,武汉,430074;

    华中科技大学,光电子科学与工程学院,武汉光电国家实验室,武汉,430074;

    中国科学院,高能物理研究所,北京,100039;

    中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光谱;
  • 关键词

    X光胶片; 同步辐射; 响应曲线; 标定;

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