首页> 中文期刊> 《科学技术创新》 >关联式双向可追溯嵌入式软件测试

关联式双向可追溯嵌入式软件测试

         

摘要

提出一种相互关联模式的嵌入式软件测试方案,并以图形化方式直观表示其关联,这样可以提升嵌入式软件产品的质量,克服开发与维护过程中的修改引起的软硬件及模块间不一致性的问题,减少开发与维护的代价。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号