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John Swanstrom;
应用工程师;
天线测量; RCS测量; 测试时间; 配置; 降低; 方案; 典型; 试配; 复杂;
机译:广义失效率降低的分布的总测试时间平均值的最优界限
机译:与车载半导体的发展相对应:同时测量许多复杂的高性能设备,缩短测试时间/降低成本
机译:一种新型低功率BIST-TPG,测试时间降低
机译:盖特纳LINAC中心的新型高能分辨率中子传输探测器和keV区域的同位素钼总截面测量。
机译:使用新型自动化方法测量非酒精性脂肪性肝炎患者的总抗氧化剂反应
机译:一种易于降低缀合物无传导对流配置中的总热阻的易用设计方法
机译:基于总测试时间的序贯测试间隔估计
机译:使用道路模拟器进行汽车测试以减少总测试时间的方法涉及比较用道路模拟器记录的成对测量值曲线
机译:用于自适应地学习单个设备测试上的测试测量延迟以减少总设备测试时间的方法和设备
机译:自适应学习单个设备测试中的测试测量延迟以减少设备总测试时间的方法和装置
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