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不同电阻率测深方法对旁侧不均匀体的反映

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摘要

利用三维有限元数值模拟,重点研究了旁侧三维不均匀体所产生的视电阻率的影响问题,展示了4种常规电阻率测深法在旁侧不均匀体上的异常分布特点;探讨了测深点正下方目标体异常与旁侧不均匀体异常的区别问题,指出旁侧不均匀体的影响是产生电阻率法假异常的主要原因之一.

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来源
《物探与化探》 |2003年第5期|379-382|共4页
作者
强建科; 阮百尧;
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作者单位

中国地质大学,湖北,武汉,430074;

桂林工学院,广西,桂林,541004;

桂林工学院,广西,桂林,541004;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电法勘探;
关键词
电阻率测深; 旁侧不均匀体; 异常区分; 三维数值模拟;

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