透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)提供了超高的空间分辨率和多样化的微区分析方法,是纳米地质学研究的重要表征手段之一.运用TEM技术研究矿物时,由于地质样品的高度复杂性和强烈非均质性,使得实验测试过程复杂而困难.文章探索了一套适用于地质样品的TEM分析测试流程.首先根据样品特性,选择合适的样品制备方法,重点介绍了粉末制备法、离子减薄法及聚焦离子束法;然后进行目标矿物的定位,提出了一种扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)+TEM组合定位法;接着进行包括明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射花样等不同类型图像的获取,着重说明了各种图像的成像原理、拍摄过程、注意事项和实验技巧;最后是选定关注的微区,测试元素组成及分布情况,并与常用的微区成分分析仪器进行对比,从而说明TEM成分分析的适用范围及优点.
展开▼
