首页> 中文期刊> 《佛山陶瓷》 >标准样品细致分类在X射线能谱荧光分析中的重要意义

标准样品细致分类在X射线能谱荧光分析中的重要意义

         

摘要

本文通过比较在X射线荧光能谱分析中标准样品的两种分类方法,分别作为参考曲线的分析结果,提出在测量各种不同的陶瓷原材料时应采用细致分类的标准样品,即与该陶瓷样品的化学成份等相一致的标准样品来作参考曲线。其误差能大大减小,从而得出令人满意的测量结果。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号