基于断路器弧触头全寿命周期的动态电阻测量试验

摘要

cqvip:高压SF6断路器触头状态是影响灭弧室电寿命最重要的因素。为研究动态电阻测量在SF6断路器电寿命诊断中的应用,对两台额定电压分别为40.5 kV与126 kV的试品SF6断路器进行了电烧蚀试验,并得到不同直流测试电流和触头烧蚀状态下的动态电阻曲线。试验结果表明:主触头电阻与弧触头电阻正常值范围分别为50~150μΩ与200~400μΩ,弧触头接触行程随烧蚀试验次数线性减小。基于以上结果,研究了直流测试电流对动态电阻的影响,表明1000 A及以上的测试电流可以得到较为精确的动态电阻曲线;分析弧触头接触行程对灭弧室性能的影响,提出弧触头接触行程是影响灭弧室电寿命最重要的因素,并基于触头接触电阻与接触行程参数得出断路器电寿命诊断方法。