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方凌云; 王晓兰;
华中科技大学;
管理学院;
武汉;
430074;
计算机学院;
基本门电路芯片; 自动检测; 系统设计;
机译:将带有最佳参数设计应用于自动检测系统的支持向量机,用于在发光二极管芯片表面上进行分类微缺陷
机译:LED芯片缺陷自动光学检测系统开发
机译:两级反向传播神经网络的LED芯片自动检测系统
机译:基本门电路IC检测系统的设计
机译:利用计数规则的自动词边界检测系统设计
机译:在透明粘合芯片中快速齐全地测量嵌入式微通道结构尺寸的自动光学检测系统的开发
机译:芯片芯片自动故障检测系统的开发
机译:集成2D和3D雷达的基本系统概念和自动检测系统的设计。
机译:设计和跟踪基本矩阵芯片,基本矩阵芯片(其选项)中的数据转换方法
机译:包含从原始设计规则集获得的标准单元和增强标准单元的混合物的IC芯片,这些标准单元是原始设计规则集及其制造方法的基本统一变体
机译:包含从原始设计规则集获得的标准单元和增强的标准单元的混合物的IC芯片,这些标准单元是原始设计规则集及其制造方法的基本统一变体
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