一种芯片外观检测筛选器的设计

摘要

根据芯片加工完成后常见缺陷,提取特征并将其分类.基于信息熵特征选择方法,将这些特征量进行优化选择.基于BP神经网络的构建了筛选器模型,并设计了机械结构,通过现场对样本的采集进行训练与测试,结果表明该筛选器能够很好识别5种常见的芯片缺陷.