半导体测试设备联盟机构STC力推外围接口标准化工作

摘要

半导体测试联盟（Semiconductor Test Consortium，STC）日前宣布，其为推动自动化测试设备（ATE）外围接口标准发展采取的一项全新的举措，目前已经取得较大进展。这一被称为半导体测试外围接口延伸（Semiconductor Test Interface eXtensions，以下简称STIX）的项目旨在解决ATE日趋增加的成本和效率瓶颈等问题。