半导体老化测试生产流程模拟和优化的应用

摘要

介绍了半导体老化测试生产流程.针对老化测试作业排序问题的固有复杂性和目标函数难以求解等特点,建立了基于"Arena"建模软件的仿真和优化的集成系统框架.在该框架下可引入各种随机因素提高对实际系统的建模与求解能力.系统运行结果表明:当自动装载芯片设备(ALU)、老化测试设备[作者]MTX)、装载芯片线路板(CB)的数量比为2∶2∶2时,有最大产量和最短等待时间,它是生产一个批量的最优化方案.