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一种先进的时序电路测试生成算法

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本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析,并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法.

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来源
《电子质量》 |2004年第9期|6-8|共3页
作者
刘晓华;
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作者单位

广州邮电通信设备有限公司,广州,510630;

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正文语种 chi
中图分类继电器;
关键词
测试生成; 故障模拟; 状态判决;

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