军用电子元器件可靠性筛选试验流程创新研究

摘要

针对电子元器件的流转和使用过程中无法方便测试电性能的问题,研究军用电子元器件可靠性筛选试验流程。从分立器件和集成电路的筛选两个方面进行流程设计。设计军用电子元器件可靠性筛选流程为:高温存储-交替循环-加速度-功率质量检测-高温抗压测试-低温抗压测试-常温测试-检漏-视觉包装检查。经实验验证,本文所设计的流程能取得更为精准的检测效果。