基于线性规划的关键面积最小化方法

摘要

随着集成电路(IC)技术的不断发展,尤其在90nm和65 nm技术节点,集成电路制造业的投资剧增而随机成品率却在下降.为了提升随机成品率,需要在布线或后布线阶段减小关键面积.文中提出一种基于线性规划降低关键面积的方法,使关键面积在一组条件约束下,通过版图中一些特征量的变化,建立起一个线性规划模型,然后求其最优解,进而得出关键面积的最小值.该方法的优点是把一个版图优化问题转化为数学问题,使问题更精确化,从而为成品率的优化提供了一条新途径.