基于蚁群算法的数字微流控芯片并行测试

摘要

可靠性是数字微流控生物芯片的一项重要指标,尤其是在安全性要求较高的应用领域.因此,芯片需要在生产制造后或生化实验前进行充分测试,以排除故障,确保实验结果准确.文中针对芯片的结构故障,提出了一种基于蚁群算法的并行测试方案,实现对较大规模的数字微流控芯片进行多液滴并行测试.该方案首先将芯片模型转化为MTSP模型,并利用蚁群算法分布式计算特性搜索多组优化的测试路径,完成对数字微流控芯片实验路径的测试.实验结果表明,该方案可用于在线测试,并能有效地减少大规模芯片的测试时间,且提高了工作效率.