NI举办第十三届“PXI技术和应用论坛”,引领PXI发展新潮流

摘要

2016年6月16日–NI（美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI）作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商,在上海举办了第十三届＂PXI技术和应用论坛＂（PXI Technology＆Application Conference,即PXI TAC）。本次PXI TAC的主题为＂更智能的系统-更智能的系统测试＂,吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表,共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货,探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。