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IC测试新技术新标准发展动向

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@@ 一、降低测试成本提高测试速度势在必行rn任何一种电子产品都离不开体积小、功能强的芯片,正是芯片推动着IC飞速发展,同时,也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展,但是测试不可避免的地要滞后于IC的开发.

著录项

来源
《今日电子》 |2001年第9期|20-22|共3页
作者
于凌宇; 冯玉萍;
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作者单位

信息产业部794厂高级工程师;

信息产业部794厂高级工程师;

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正文语种 chi
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