基于HALT和HASS试验的可靠性技术发展概述

摘要

元器件的质量与可靠性是电路质量与可靠性的关键和核心,可靠性的核心是预防故障,通过在设计阶段实施HALT,研制阶段实施HASS试验,能有效地提高产品的可靠性。简单地介绍了HALT和HASS试验,并对其应力确定、设计过程作逐一介绍。最后,对HASS和HALT试验技术的应用做了简要概述。