Electronics manufacture and test

中文名称：电子制造与测试

ISSN：0265-301X
出版周期：Monthly

发文量：1077

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机译：Quality comes from the OEM background
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机译：Nepcon provides platform for potential partners
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4.Major upgrade to software tool

机译：Major upgrade to software tool
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机译：Droject answers Pb-free transition concerns
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机译：Mobile charger requires automated solutions
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8.Track record secures mobile contract

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9.SOLDER once when mixing technology

机译：SOLDER once when mixing technology
- 作者：Malcolm Stenning;Mark Eaton
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第10期
10.Motor towards recognised standards

机译：Motor towards recognised standards
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
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机译：Top-Tier envy as Flextronics top the European tree
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第7期
12.WIND-UP test succeeds on PXI platform

机译：WIND-UP test succeeds on PXI platform
- 作者：Blair Murray
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第10期
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机译：Small process is looking good
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14.Is x-ray inspection a viable alternative?

机译：Is x-ray inspection a viable alternative?
- 作者：Nick Hickford
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
15.Human touch gives AOI intelligence

机译：Human touch gives AOI intelligence
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第7期
16.Speedline showcases new printer

机译：Speedline showcases new printer
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17.Guidelines for testing modern PCBs

机译：Guidelines for testing modern PCBs
- 作者：Oamian Burns
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
18.SED effects on Conformal Coatings

机译：SED effects on Conformal Coatings
- 作者：John Humphries
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2004年第12期
19.Schools must see value in manufacturing

机译：Schools must see value in manufacturing
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2007年第11期
20.Designed for difficult challenges

机译：Designed for difficult challenges
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2007年第11期
21.Contract win as AOI gives customer confidence

机译：Contract win as AOI gives customer confidence
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第7期
22.Nepcon UK announces 2008 dales

机译：Nepcon UK announces 2008 dales
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2007年第11期
23.Exception signs Turkish contract

机译：Exception signs Turkish contract
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24.Where Quality Matters!

机译：Where Quality Matters!
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25.Combined test to tackle advanced boards

机译：Combined test to tackle advanced boards
- 作者：Ed Crane;Ed Kinney;Bill Jeffrey
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第7期
26.Balver look to build up German clan

机译：Balver look to build up German clan
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2007年第11期
27.Semi-automatic stencil

机译：Semi-automatic stencil
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28.Heavy-duty and all-purpose

机译：Heavy-duty and all-purpose
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29.Defining industry... with The SMART Group and Nepcon UK

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30.Reflow worth thought and investment

机译：Reflow worth thought and investment
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
31.SAFER workplace is Government's goal

机译：SAFER workplace is Government's goal
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机译：The importance of cleanliness
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- 作者：Jordan Ross;Bob Jarrett
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35.The next 25 Years - Part III

机译：The next 25 Years - Part III
- 作者：Ronald C. Lasky
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36.SMART set get together at Brighton

机译：SMART set get together at Brighton
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机译：Internet bridge to serve all supply chain partners
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2000年第7期
38.Flip-chips qualified for lead-free reflow

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- 作者：Chris Hunt
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2005年第12期
41.Handling system

机译：Handling system
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42.Electronics industry starting to go green

机译：Electronics industry starting to go green
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43.HARSH challenge for automotive test programmers

机译：HARSH challenge for automotive test programmers
- 作者：Paul Attwell
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机译：Features buid on exhibition momentum
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
46.CRITICAL choice for automated depaneling

机译：CRITICAL choice for automated depaneling
- 作者：Carl Rudd
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47.Recovery system on show

机译：Recovery system on show
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48.British Based Manufacturing alive and Well

机译：British Based Manufacturing alive and Well
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2004年第12期
49.Trusting the right tools to do the job

机译：Trusting the right tools to do the job
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51.A C-cut above masking techinques

机译：A C-cut above masking techinques
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52.PXI expanding to meet future requirements

机译：PXI expanding to meet future requirements
- 作者：Nick Winfield
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53.Increasing test productivity

机译：Increasing test productivity
- 作者：Doug Jones
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2001年第3期
54.Road ahead is bright-but busy

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机译：NEW event gets leading lady
- 期刊名称：《Electronics manufacture and test》 | 2007年第11期
57.Is it time to change CM business models?

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- 作者：Mark Lyell
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