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大规模集成电路的高低温测试技术

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介绍了大规模集成电路高低温测试系统的建立,介绍了热流系统的主要技术指标和实用性.重点讨论了集成电路高低温测试系统,实际应用的关键技术及几个应该注意的技术细节.

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2003年第5期|26-28|共3页
作者
焦慧芳; 贾新章;
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作者单位

西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071;

信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071;

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正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路 ;
关键词
高低温测试; 热流系统; 温度建立时间;

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