使用TEM小室进行集成电路的辐射发射测量

摘要

介绍了使用透射电子显微镜（TEM）小室对集成电路进行辐射发射测量的方法，重点阐述了TEM小室、射频测茸仪器、预放和集成电路测试用PCB等测试系统构成部分，环境条件以及测试步骤等内容。