首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >集成电路三温测试数据在失效分析中的应用

集成电路三温测试数据在失效分析中的应用

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

在集成电路的失效分析中,测试数据有非常重要的作用.从集成电路的三温电性能测试数据出发,论述了电性能测试数据与集成电路基本元器件参数的关系,对理清分析思路和揭示集成电路失效的根本原因有一定的帮助.

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2013年第5期|1-5|共5页
作者
李兴鸿; 赵俊萍; 赵春荣;
展开▼
作者单位

北京时代民芯科技有限公司,北京100076;

北京时代民芯科技有限公司,北京100076;

北京时代民芯科技有限公司,北京100076;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类半导体集成电路（固体电路）;
关键词
测试数据; 集成电路; 失效分析;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 试论集成电路失效分析中电测试的应用 [J] . 周长 . 电子测试 . 2021,第008期
2. SEMEDS技术在集成电路失效分析中的应用和实例分析 [J] . 周金成 ,李亚斌 ,李习周 . 电子工业专用设备 . 2018,第006期
3. 电压衬度在CMOS集成电路失效分析中的应用 [J] . 马香柏 . 集成电路应用 . 2017,第005期
4. 浅析电测试在集成电路失效分析中的应用 [J] . 刘炜 ,汪忠林 . 通讯世界：下半月 . 2015,第004期
5. 浅析电测试在集成电路失效分析中的应用 [J] . 刘炜 ,汪忠林 . 通讯世界 . 2015,第008期
6. EMMI/OBIRCH在大规模集成电路芯片失效分析中的应用 [C] . Cui Jia ,崔嘉 ,Zhang Guanjie . 第三十一届中国（天津）2017‘IT、网络、信息技术、电子、仪器仪表创新学术会议 . 2017
7. 精确定位技术在集成电路失效分析中的应用研究 [A] . 孔云龙 . 2016

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号