利用近红外光谱法建立天麻配方颗粒一致性检验模型

摘要

目的 应用近红外漫反射(NIR)法建立天麻配方颗粒一致性检验模型,为其质量控制提供更可靠的方法.方法 在12000 cm-1～4200 cm-1范围内对天麻配方颗粒进行直接接触扫描,采集近红外光谱图,找出特征峰,建立一致性模型.结果 所建立的近红外一致性模型能准确快速地区分不同厂家的天麻配方颗粒.结论 所建方法可用来快速筛查假劣药品,保护品牌药,增强市场监管力度.