一种对基于SG测试系统的反辐射导引头校正数据的处理方法

摘要

随着反辐射制导精度的提升,天线罩在探测过程中引入的幅相调制特性变得不可忽视,需通过头罩匹配进行补偿.为提升匹配效率,采用了 SATIMO公司的SG系统完成快速测试,但通常情况下其原始数据不满足导引头使用,需做进一步转换.提出一种基于三方转换的坐标变换和插值处理的数据转换方法,可以非常方便地将SG系统下测试得到的幅相数据,转化到任意形式的目标坐标系下.