用于计量、传感和成像的量子光学技术

摘要

过去20年来，明亮的纠缠光子源令量子光学干涉测量得以复兴。光学干涉测量已经用于测试量子力学基础以及实现一些与量子纠缠有关的创新思想，如，量子隐形传态、量子密码学、量子光刻术、量子计算逻辑门和量子计量学。本文聚焦于已开发的新途径，用量子计量学中的量子光学纠缠冲破散粒噪声极限，该极限可用于光纤陀螺仪以及探测生物或化学目标的传感器。我们还讨论了这种纠缠如何用于突破成像系统如激光雷达（LIDAR）和光刻术中的瑞利（Rayleigh）散射极限。