片式ZnO压敏电阻器印叠工艺对通流容量的影响

摘要

通过印叠工序中,内电极烘干温度与烘干时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器通流容量的影响.结果表明:烘干温度与烘干时间分别为70℃与2～4 h时,产品的通流容量最大.