用威布尔分布求元器件失效率的探讨

摘要

1.序 在电子元器件寿命试验中,已广泛用威布尔分布来求其失效率、可靠度等。虽然威布尔分布也可用解释法来求m、η、λ等参数,但由于太复杂,所以一般都用图解法或无偏估计法来求m、η及λ。为此我国制定的有关标准规定:“它适用于电子元器件产品的寿命服从威布尔分布,其形状参数m>0,特征寿命η>0,位置参数γ=0”。本文要讨论的是m>0及η>0是否合理、必要;图估计法及无偏估计法求得的λ的置信度是多少?用图估计法或无偏估计法求λ时t应如何限制。