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含粘接缺陷的共形承载天线力学性能演化机理

         

摘要

共形承载天线兼具电磁辐射及承担外载功能,综合性能良好,在航空领域具有重要的应用价值和广阔的发展前景.由于共形承载天线由层合结构构成,在不同材料的粘接及热压过程中,容易在粘接层形成裂纹等粘接缺陷,而失效往往在裂纹处发生,所以研究含粘接缺陷的共形承载天线力学性能演化机理具有重要意义.文中首先根据实验数据辨识了共形承载天线层间界面的动态等效断裂能并将其应用于双线性内聚力模型;其次,建立了共形承载天线的有限元模型并根据模态实验结果验证了模型的准确性;最后,依据仿真结果给出了结构服役过程中允许的最大层间裂纹半径,为合理确定工程制造精度提供了依据.

著录项

  • 来源
    《电子机械工程》 |2017年第5期|1-6,11|共7页
  • 作者单位

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

    大连理工大学工业装备结构分析国家重点实验室,辽宁 大连 116023;

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

    西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室,陕西 西安 710071;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 工程材料力学(材料强弱学);
  • 关键词

    共形承载天线; 裂纹; 动态参数辨识; 演化机理;

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