普通散绕绕组绝缘结构优化试验研究

摘要

在保证定子绕组绝缘结构可靠性的前提下,通过控制漆包线导体直径(负公差)、漆膜偏心度(≤1.5)和漆膜厚度,减薄槽绝缘及槽楔厚度等方法,优化普通散绕绕组绝缘结构,提高定子槽满率,有利于提升电机效率.对采用优化设计组合的3种典型绝缘结构进行热老化评定,结果表明优化设计的3种绝缘结构温度指数均超过160℃,达到155(r)级.采用优化的绝缘结构方案,可以对高效电机的设计与开发提供帮助.