首页> 中文期刊>电工技术 >基于太赫兹时域光谱技术的GIS设备固体粉末中金属异物的检测研究

基于太赫兹时域光谱技术的GIS设备固体粉末中金属异物的检测研究

     

摘要

GIS设备在设计、制造、安装和运行维护时会产生固体粉末,固体粉末中存在金属颗粒时会对GIS设备的安全稳定运行造成较大隐患,因此对GIS设备固体粉末中金属异物进行检测具有重要意义.利用太赫兹时域光谱技术对环氧树脂、硅橡胶、陶瓷及其混合物进行了实验测量,获得了四组样品的时域、频域、吸收光谱和折射率.在此基础上,分别在这四组绝缘材料样品中加入铜粉末,并利用太赫兹时域光谱技术得到添加铜粉末后样品的时域、频域、吸收光谱和折射率.实验结果表明,在绝缘材料中添加铜粉末后,材料的时域、频域、吸收系数和折射率都有明显变化.通过太赫兹技术可快速准确地检测出GIS设备固体粉末中是否存在金属异物,进而保障电网的安全运行.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号