晶粒尺度和片层厚度对全片层γ-TiAl合金性能的影响

摘要

研究了全片层 Ti- 46 .5 Al- 2 Cr- 1.5 Nb- 1V合金的显微组织与宏观力学性能之间的关系。研究表明 ,通过不同的热处理制度可以得到具有相同片层厚度的 4种晶粒尺度 ,以及晶粒尺度大约为 45 0 μm,片层厚度分别为 15 0 nm和5 0 0 nm的组织。材料的屈服强度随着合金晶粒尺度和片层厚度的增加而减小 ,符合 Hall- Patch关系 ,ky值为 1.82。材料的蠕变抗力随片层厚度的增加而减小 ,但是对晶粒尺度的变化不很敏感。