固体核磁共振法测定白炭黑羟基含量

摘要

思通检测技术有限公司采用高分辨固体核磁硅谱（29SiNMR）法测定白炭黑羟基含量，通过单脉冲硅谱测定和分峰拟合计算，得到硅原子上单羟基和双羟基含量及总羟基含量，并与氮吸附比表面积结合可求得单位比表面积上的羟基个数。该方法操作简单，数据重现性好。随着氮吸附比表面积增大，白炭黑总羟基质量分数增大，单位比表面积上的羟基个数减少。