石墨层间化合物在插层过程中阶的转变模式

摘要

应用原位ＸＲＤ（Ｘ射线衍射）法，研究了石墨层间化合物（ＣＩＣ）在插层过程中阶次的转变模式。结果表明：不同的插层体系和插层条件产生不同的成核和扩散情况，从而导致在插层过程中试样的不同阶次转变模式。