首页> 中文期刊>半导体光电 >利用CCD实现量块的自动测量

利用CCD实现量块的自动测量

     

摘要

利用CCD取代接触式干涉仪的光学放大镜接收干涉条纹 ,结合 80 31单片机并通过对干涉条纹移动量的测量 ,实现了对量块的自动测量。测量中以二级量块做标准量块来对三级量块进行测量。测量结果表明测量误差小于 0 1μm。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号