Fourier过滤技术在半结晶高聚物两相共存结构分析中的应用

摘要

联用Rietveld方法和Fourier过滤技术,首先以标准试样PbSO4的实测X射线衍射全谱图数据进行精修和分离,获得其结晶相结构参数和低本底值。然后将此联用方法推广到半结晶聚酯(PET)试样中,精修其结晶相结构参数,并同时分离出非晶相的散射数据。在两相分离过程中,关键问题之一,是必须将非晶相的X射线散射曲线用多个非晶散射峰表征,此外还指出,评价结果的正确依据是,由两相分离同时获得的结晶相结构参数,和由被分离出来的非晶相散射数据所计算的径向分布函数(RDF)都必须合理。