掺杂的高温超导体的自旋晶格弛豫率

摘要

本文在赝隙和剩余态密度基础上对ＹＢａ２（Ｃｕ１－ｘＺｎｘ）３Ｏ７及Ｔｌ２Ｂａ２ＣｕＯ６＋ｙ（Ｔｃ＝４０Ｋ）在超导态下的自旋晶格弛豫行为进行了研究，在低于Ｔｃ的整个温区内计算值与实验符合较好．研究结果表明在稍低于Ｔｃ的温区赝隙导致了ＢＣＳ理论预言的相干峰的消失，而在低温（约１／２Ｔｃ以下），剩余态密度对体系的自旋晶格弛豫率的贡献起了主要作用．文中讨论了赝隙和剩余态密度的起源．通过研究还发现掺杂对体系电子结构的影响是非局域的，而且掺杂使剩余态密度有较大幅度增强，这些因素可能与掺杂强烈抑制Ｔｃ密切相关．